Sistema di misurazione

Zeiss FIB Auriga 60

Auriga 60, microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) controllato da computer, dotato di ottica elettronica GEMINI® brevettata e catodo a emissione di campo, progettato per applicazioni analitiche e acquisizione di immagini ad alta risoluzione in condizioni di alto vuoto.
Anno di fabbricazione: 2011
Tipo di colonna FIB: colonna Cobra FIB
Tipo di colonna SEM: emettitore di campo Schottky
Rivelatori installati:
• SESI (commerciale)
• InLens
• ESB
• 4QBS (pneumatico)
• STEM (pneumatico)
• EDX X-MAX 80 mm (Oxford)
• EBSD (HKL Channel 5)
• Compensazione della carica
Sistema di iniezione di gas: platino
Rapporto sulla manutenzione: il sistema è stato sottoposto a manutenzione annuale, con un rapporto di assistenza fornito ogni volta.
Ore di funzionamento: 13.290,33 ore (con il filamento attuale)
PC e software inclusi: sì
Componenti inclusi: tutti i sistemi di pompaggio, i sistemi di raffreddamento e le unità di controllo sono inclusi, ad eccezione degli smorzatori.
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Versione del software:
• SEM: SmartSEM, versione 6.00 (9 giugno 2016)
• EDX: pacchetto software INCA – versione 5.03
Prezzo: prezzo negoziabile, IVA e consegna esclusi.

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