Componente

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Anno di produzione: 2025, Condizione: nuovo, Sistema di ispezione a raggi X per confezioni e sacchetti di medie dimensioni. Adatto per il rilevamento di corpi estranei di metallo, vetro, pietra, plastica, ecc. in prodotti alimentari e non alimentari. - Specifiche: Larghezza nastro trasportatore: 410 mm; Precisione di rilevamento: Pb da Ø 0,2 mm, Fe da Ø 0,28 mm, SUS da Ø 0,28 mm, non metallici come pietra, vetro, da Ø 1,2 mm; Potenza dei raggi X: 80 kVp, 1,25 mA; Risoluzione del rilevatore: 0,4 mm; Emissioni di raggi X: < 1usv/h; Altezza del nastro trasportatore: 850 ± 30 mm; Velocità del nastro trasportatore (dipendente dal prodotto): 10 – 100 m/min; Interfaccia utente: touchscreen da 15"; Software: intellisens®X-ray; Temperatura di esercizio: 5 – 35 °C; Sistema di espulsione: disponibile opzionalmente in base alle esigenze; Alimentazione: 220 V CA, 50/60 Hz; Dimensioni del sistema: L900xP920xA1825 mm; Peso: 350 kg. Fsdpov Nm Inefx Ah Sefw Si prega di notare che i nostri nuovi prezzi sono spesso più bassi rispetto ai normali prezzi dell'usato. Basta chiedere e raccontarci il tuo compito di imballaggio. - Di solito ci sono 30-50 macchine nuove diverse disponibili immediatamente in magazzino. Inoltre, per le macchine realizzate secondo le specifiche del cliente, i tempi di consegna sono molto brevi: circa 3 settimane. - Tutte le macchine sono disponibili con garanzia completa.

Condizione: guasta - magazzino di ricambi (usata), Oxford Instruments Analizzatore a fluorescenza X Oxford Instruments X-Strata 960 – Per ricambi / guasto Descrizione articolo: In vendita un analizzatore di fluorescenza a raggi X usato, modello Oxford Instruments X-Strata 960. Il dispositivo proviene da uno smantellamento di laboratorio e viene offerto esclusivamente come donatore di parti di ricambio o per scopi di riparazione. Non è stato effettuato alcun test di funzionamento – pertanto il dispositivo si considera guasto ai fini della vendita. Dati tecnici – Oxford Instruments X-Strata 960 (non vincolante) Caratteristica Descrizione Modello X-Strata 960 Produttore Oxford Instruments Metodo di analisi Analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) Campi di applicazione Misura dello spessore dei rivestimenti, analisi dei materiali, verifica dei metalli preziosi Geometria di misura Direzione del fascio dall’alto o dal basso a seconda della configurazione Sorgente di radiazione Tubo a raggi X (ad esempio anodo al rodio), potenza da 50 a 100 W Rilevatore Contatore proporzionale o rivelatore a deriva di silicio (SDD), a seconda della versione Campo di misura Spessore del rivestimento circa 0,005 – 50 µm (a seconda del materiale) Dimensione spot Circa 15 μm – 1 mm (in base al collimatore) Asse Z Movimentazione motorizzata, altezza di misura fino a circa 230 mm Camera campione (L × P × A) circa 580 × 510 × 230 mm Piano campioni Manuale o motorizzato (200 × 200 mm o più grande, secondo l’equipaggiamento) Sistema di messa a fuoco Ottico / laser, in parte automatico Fsdjhaapfspfx Ah Sjfw Sistema operativo PC industriale integrato con software di valutazione basato su Windows Alimentazione 220–240 V / 50–60 Hz / ca. 500–800 W Peso circa 150–200 kg (a seconda della versione) Condizione: usato / guasto / per pezzi di ricambio Dotazione: come da foto – senza accessori né software Note importanti: Vendita espressamente come dispositivo guasto senza garanzia di funzionamento. L’articolo viene offerto come donatore di parti di ricambio o per hobbisti. Nessuna garanzia su funzionamento, completezza o parametri tecnici. Vendita commerciale con esclusione di qualsiasi garanzia per vizi materiali, ai sensi dell’art. 447 BGB (vendita a distanza). Dotazione: Oxford Instruments X-Strata 960 Tutti i componenti visibili nelle immagini Ulteriori parti, accessori o documentazione non sono inclusi, salvo indicazione esplicita. Spedizione & ritiro: Ritiro possibile e preferito a Borken Spedizione possibile previo accordo. (Modifiche e inesattezze nei dati tecnici e nelle informazioni riservate!) Per ulteriori domande, siamo disponibili telefonicamente.

Condizione: usata, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD Diffrattometro a raggi X (XRD) Estratto dal rapporto di servizio: Apparecchiatura: PANalytical X’Pert PRO MPD Data del rapporto: 07.07.2021 Interventi eseguiti: - Ricollocazione e messa in funzione del sistema - Collegamento delle linee di alimentazione esterne - Fase di riscaldamento - Allineamento completo del goniometro e altri componenti - Esecuzione di manutenzione inclusa la sostituzione delle parti difettose Componenti di ricambio utilizzati: Fsdpfx Ajwycatsh Sofw L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 BATTERIA NI-CD VENTOLA per unità X-CELERATOR FILTRO, FILTRO ACQUA Motore PW3050 ("L’apparecchio non è stato testato presso la nostra sede") Lo X’Pert PRO MPD è un diffrattometro a raggi X (XRD) estremamente versatile e potente per la caratterizzazione strutturale di materiali cristallini. – Ideale sia per la ricerca pura che per applicazioni di routine in ambito industriale e universitario. Grazie al suo design modulare, alla rapida acquisizione dati, al controllo della temperatura e dell’atmosfera, è adatto sia ad analisi di routine che a esperimenti in situ complessi. Caratteristiche principali: Geometrie di misura selezionabili: - Riflessone in modalità Bragg-Brentano (θ–2θ) - Geometria a trasmissione per polveri in capillari - SAXS (Small-Angle X-ray Scattering) opzionale per nanostrutture Sorgente di radiazione e rivelatori: - Generalmente anodo di rame (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - Rivelatore X’Celerator (1D, ultra-rapido) per acquisizione dati parallela Sistema modulare con tecnologia PreFIX: - Cambio rapido di ottiche e stadi campione senza ricalibrazione Misure in situ ad alta temperatura: - Misure fino a ca. 1200°C possibili - Atmosfera controllata: aria, azoto, ossigeno (ridotto in modalità riducente) Applicazioni tipiche: - Analisi di fase e quantificazione tramite Rietveld - Determinazione di dimensione dei cristalliti, microdeformazione, tensioni residue - Studio in situ di transizioni di fase, ossidazione, cristallizzazione ecc. - Misure SAXS per analisi di nanoparticelle, porosità - Ampio spettro di campioni: polveri, film sottili, ceramiche, farmaceutici, catalizzatori, ecc. Dati tecnici (tipici) Parametro e specifiche Intervallo angolare (2θ): ca. 0,5°–150° Passo: fino a 0,002° o inferiore Goniometro: verticale, 0–0, raggio ca. 240 mm Intervallo di temperatura: da temperatura ambiente fino a ca. 1200 °C Atmosfera: aria, N₂, O₂ (limitato per atmosfera riducente) Rivelatori: X’Celerator (1D), contatore proporzionale Disseminazione e luoghi d’utilizzo: Lo X’Pert PRO MPD è utilizzato in tutto il mondo, ad es. presso: Università (ETH Zurigo, TU Dresda, Uni Vienna) Istituti di ricerca (es. Max Planck, ICN2, IS2M) Industria (sviluppo materiali, farmaceutica, chimica) Condizione: usato Fornitura: (vedi foto) (Modifiche e errori nei dati tecnici e nelle informazioni riservate!) Per ulteriori domande siamo disponibili telefonicamente.

Anno di produzione: 2016, Condizione: pronta per il funzionamento (usata), È disponibile un nuovo sistema di ispezione a raggi X Anritsu. Potenza raggi X: 100 W, larghezza di rilevamento massima: 240 mm, altezza di rilevamento massima: 120 mm, velocità di rilevamento da 2 kg a 5 kg: 10 m-60 m/min, velocità di rilevamento fino a 2 kg: 60 m-90 m/min, velocità di rilevamento da 5 kg a 10 kg: 10 m-40 m/min, materiale dell'alloggiamento: acciaio inossidabile, peso della macchina: circa 255 kg, ore di funzionamento: meno di 50 ore. La macchina non presenta segni di usura né sul nastro trasportatore né sulle tende di protezione dalle radiazioni. Documentazione disponibile. È possibile effettuare un sopralluogo in loco. Ffsdovzr Aujpfx Ah Ssw