Fischerscope usato in vendita (4)

Condizione: usata, 1 unità di spettrometro a fluorescenza a raggi X FISCHERSCOPE XDL-XYM completo di tastiera, monitor e computer Colore: come mostrato nelle immagini, conforme alle foto e all’ispezione Chjdpfx Ajzqcn Nendoa Condizioni: usato

Condizione: usata, Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 – Misuratore di spessore di strati a fluorescenza a raggi X Produttore: Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Germania Tipo: XDL-XYZpT8 Modello: FISCHERSCOPE X-RAY Tipo di macchina: Misuratore a fluorescenza a raggi X / Misuratore di spessore di strati (XRF / RFA) In vendita è disponibile un misuratore a fluorescenza a raggi X usato del produttore Helmut Fischer GmbH + Co. KG. Il FISCHERSCOPE X-RAY è adatto alla misurazione non distruttiva dello spessore di strati e all'analisi dei materiali tramite fluorescenza a raggi X (XRF/RFA). Il sistema è progettato per la misurazione di strati funzionali, strati protettivi anticorrosione e vari rivestimenti metallici e trova applicazione nel controllo qualità, nella galvanotecnica, nella tecnologia delle superfici, nella ricerca e nei laboratori. Il dispositivo proviene da una svendita di magazzino e viene venduto esplicitamente non testato e senza garanzia. Dati tecnici: Produttore: Helmut Fischer GmbH + Co. KG Modello: FISCHERSCOPE X-RAY Tipo: XDL-XYZpT8 Numero di serie: SN010002436 Prodotto in Germania Presente il marchio CE Sistema di misurazione: Fluorescenza a raggi X (XRF / RFA) Camera di misurazione con fessura a C Tubo a raggi X standard Contatore proporzionale Diaframma fisso e filtro fisso Corsa DCM: 0–80 mm Tensione di alimentazione: 230 V CA Frequenza: 50–60 Hz Assorbimento di potenza: 120 W Dotazione: Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 Camera di misurazione con protezione Software Manuale di istruzioni Connessione alla rete elettrica Interfaccia seriale (Sub-D) Ulteriori accessori come mostrato nelle immagini Aree di applicazione: Misurazione dello spessore di strati Analisi dei materiali Analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) Controllo qualità Galvanotecnica Tecnologia delle superfici Controllo dei materiali Laboratorio Ricerca e sviluppo Condizioni: Usato. Il dispositivo proviene da una svendita di magazzino. Condizioni estetiche come mostrato nelle immagini. Il dispositivo non è stato testato da noi e viene venduto esplicitamente non testato e senza garanzia. Contenuto della confezione: Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 Software Chodpfjzl Ulvox Andoa Manuale di istruzioni Ulteriori accessori come mostrato nelle immagini Contenuto della confezione come mostrato nelle immagini. Salvo modifiche, errori e vendita anticipata.

Condizione: buona (usata), Helmut Fischer Fischerscope Fluorescenza a raggi X Misurazione dello spessore del rivestimento XDL XDL-B XYmZ Cjdpew Hbimjfx Andoha

Condizione: pronta per il funzionamento (usata), Anno di produzione: 2001, Funzionalità: funzionalità limitata, For sale: Fischerscope H100C XYp micro-/nano-hardness testing system from Helmut Fischer (year of manufacture: 2001). The device was last used in a laboratory but is currently not fully functional and is therefore expressly sold as defective / for spares / as a parts donor. Known issues: - Table traverse does not work correctly (the stage is positioned under the measuring head rather than under the microscope → targeted measuring is currently not possible). Likely an electronic issue. - Measuring table moves independently to the left – possibly a joystick fault. - Indenter change does not function correctly (the probe does not fully reach the end position). Cedpfx Anjyu Nabsdjha The device is therefore particularly suitable for: • Repair by persons with electronics expertise • Spare parts recovery • Research / hobbyists Optical condition is good for its age.