Fischerscope usato in vendita (3)

Condizione: buona (usata), Helmut Fischer Fischerscope Fluorescenza a raggi X Misurazione dello spessore del rivestimento XDL XDL-B XYmZ Cjdpfow Hbimsx Apishd

Condizione: usata, HELMUT FISCHER Misuratore di fluorescenza a raggi X / Misuratore di spessore di strato FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 Sistema professionale di misurazione a fluorescenza a raggi X per l’analisi dello spessore di strato e dei materiali In vendita un misuratore di fluorescenza a raggi X usato Cjdpfez Egi Rex Apiehd del produttore Helmut Fischer GmbH + Co. KG, Germania. Il FISCHERSCOPE X-RAY è adatto per la misurazione non distruttiva dello spessore di strato e per l’analisi dei materiali mediante fluorescenza a raggi X (RFA/XRF). Il sistema è progettato per misurazioni di strati funzionali, strati di protezione dalla corrosione e diverse rivestimenti metallici ed è utilizzato nel controllo qualità, nei laboratori, nella ricerca e nella produzione. Dati tecnici: Produttore: Helmut Fischer GmbH + Co. KG Modello: FISCHERSCOPE X-RAY Tipo: XDL-XYZpT8 Numero di serie: SN010002436 Prodotto in Germania Presente il marchio CE Sistema di misurazione: Misuratore di fluorescenza a raggi X (RFA / XRF) Per la misurazione non distruttiva dello spessore di strato Adatto per strati funzionali e strati di protezione dalla corrosione Ampia camera di misurazione con fessura a C Tubo a raggi X standard Contatore proporzionale Diaframma fisso e filtro fisso Corsa DCM 0–80 mm Dati elettrici: Tensione di alimentazione: 230 V CA Frequenza: 50–60 Hz Assorbimento di potenza: 120 W Connessioni: Connessione di rete Interfaccia seriale (Sub-D) Ulteriori connessioni come mostrato nelle immagini Dotazione: Misuratore Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY Camera di misurazione con coperchio di protezione Software Manuale di istruzioni Ulteriori accessori come mostrato nelle immagini Campi di applicazione: Misurazione dello spessore di strato Analisi dei materiali Analisi a fluorescenza a raggi X (XRF) Controllo qualità Galvanotecnica Tecnologia delle superfici Controllo dei materiali Laboratorio Ricerca e sviluppo Contenuto della confezione: Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL-XYZpT8 Software Manuale di istruzioni Contenuto della confezione come mostrato nelle immagini Condizioni: Usato Il dispositivo proviene da uno smaltimento di magazzino. Condizioni ottiche come mostrato nelle immagini. Importante: Il dispositivo non è stato testato da noi e viene venduto esplicitamente senza verifica e senza garanzia. Il tavolo o altri oggetti raffigurati nelle foto e non menzionati esplicitamente non fanno parte della vendita. La spedizione, a causa delle dimensioni e del peso, è possibile tramite spedizioniere. Salvo modifiche, errori e vendita anticipata. Possiamo rispondere volentieri ad ulteriori domande telefonicamente.

Condizione: pronta per il funzionamento (usata), Anno di produzione: 2001, Funzionalità: funzionalità limitata, For sale: Fischerscope H100C XYp micro-/nano-hardness testing system from Helmut Fischer (year of manufacture: 2001). Csdpfxeyu Nabj Apiehd The device was last used in a laboratory but is currently not fully functional and is therefore expressly sold as defective / for spares / as a parts donor. Known issues: - Table traverse does not work correctly (the stage is positioned under the measuring head rather than under the microscope → targeted measuring is currently not possible). Likely an electronic issue. - Measuring table moves independently to the left – possibly a joystick fault. - Indenter change does not function correctly (the probe does not fully reach the end position). The device is therefore particularly suitable for: • Repair by persons with electronics expertise • Spare parts recovery • Research / hobbyists Optical condition is good for its age.