Sistema di misurazione

Leica EM TXP

La EM TXP è un dispositivo unico progettato per la preparazione precisa di un'ampia gamma di materiali e combinazioni di materiali, anche con difetti localizzati minimi. È stata sviluppata specificamente per il taglio, la fresatura, la levigatura e la lucidatura di campioni impegnativi, di piccole dimensioni e di difficile manipolazione, dove il processo di lavoro viene osservato con uno stereomicroscopio e si effettua un'analisi finale al microscopio elettronico a scansione o al microscopio ottico senza interruzione delle singole fasi operative.

La EM TXP offre, tra l'altro, un'ottima possibilità di pre-preparare materiali sui quali si intende realizzare una sezione inclinata tramite un dispositivo di ion polishing.

Fornita con i seguenti accessori:
1 pz. Stereomicroscopio M80 completo
1 pz. Piastra a croce per M80, 12 mm
1 pz. Adattatore per obiettivo mobile per M80
1 pz. Adattatore inclinabile
1 pz. Lama a disco diamantata
1 pz. Lama a disco diamantata
1 pz. Fresatore speciale Ø 6 mm con tagliente diamantato
1 pz. Fresatore speciale Ø 12 mm con tagliente diamantato
1 pz. Fresatore speciale Ø 8 mm con utensile in carburo di tungsteno
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1 pz. Fresatore speciale Ø 12 mm con utensile in carburo di tungsteno
5 pz. Mandrino
3 pz. Supporto per pellicola di lappatura
1 pz. Pellicola di lappatura 15 µm, SiC, Ø 30 mm
1 pz. Pellicola di lappatura 9 µm, SiC, Ø 30 mm
1 pz. Pellicola di lappatura 5 µm, SiC, Ø 30 mm
3 pz. Supporto per pellicola di lappatura
1 pz. Pellicola di lappatura 9 µm, diamante (tipo U)
1 pz. Pellicola di lappatura 2 µm, diamante (tipo U)
1 pz. Pellicola di lappatura 0,5 µm, diamante (tipo U)
1 pz. Pellicola di lappatura 0,1 µm, diamante (tipo LA)
3 pz. Supporto per pellicola di lappatura
1 pz. Pellicola di lappatura 9 µm, allumina
1 pz. Pellicola di lappatura 3 µm, allumina
1 pz. Pellicola di lappatura 1 µm, allumina
1 pz. Pellicola di lappatura 0,3 µm, allumina
1 pz. Panno in neoprene per lucidatura finale (8 pz.)
2 pz. Scatola per supporti e pellicole
1 pz. Supporto per campioni piatti 0-4 mm
1 pz. Supporto per campioni piatti 3-8 mm
1 pz. Supporto TXP SEM STUB
1 pz. Supporto universale per campioni

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