Sistema di misura
ASML YieldStar S-200B

Anno di produzione
2011
Condizione
Usata
Ubicazione
Dresden Germania
Sistema di misura ASML YieldStar S-200B
ASML YieldStar S-200B
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Dati della macchina

Descrizione macchina:
Sistema di misura
Produttore:
ASML
Modello:
YieldStar S-200B
Anno di produzione:
2011
Condizione:
eccellente (usata)
funzionalità:
perfettamente funzionante

Prezzo e posizione


Ubicazione:
Heilbronner Str. 22, 01189 Dresden, DE Germania
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Dettagli dell'offerta

ID dell'annuncio:
A19967480
N. di riferimento:
DV10125
Ultimo aggiornamento:
il 10.09.2025

Descrizione

Sistema di metrologia ottica per overlay, Advanced Semiconductor Materials Lithography sistema autonomo per metrologia overlay per wafer da 300 mm, YieldStar S 200B

Modello: S200B
Tipo: YieldStar
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Anno di costruzione: 2011

Dati tecnici:
Dimensione wafer: 300 mm (12")
Sorgente laser: LPPS, raffreddamento ad acqua

Informazioni generali:
Lo YSS200B è un sistema di misurazione ottica per overlay impiegato per misurazioni rapide e ad alta precisione delle deviazioni di overlay su wafer da 300 mm – tipicamente utilizzato per il monitoraggio post-incisione nel controllo dei processi produttivi come sistema autonomo.

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Ultimo accesso: La settimana scorsa

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