Spettrometro di processo Bruker MATRIX-F

Bruker MATRIX-F

Condizione: usata, Spettro Tipo: SpectroMaxX LMD08 / LMX08 Data: 24 luglio 2020 Analisi completa con lo spettrometro a scintilla stazionario SpectroMaxX: Con l'aiuto dello spettrometro a scintilla è possibile determinare il contenuto di leghe e gli elementi associati di campioni solidi macroscopici può essere determinato con elevata precisione fino all'intervallo ppm. I materiali di base ferro, alluminio, magnesio, rame, nichel, titanio e piombo rappresentano ciascuno diversi, Sono disponibili metodi di misurazione adattati alle rispettive famiglie di leghe. Vantaggi: Analisi rapida in pochi secondi Analisi spettrale altamente accurata che include C e N Design compatto (dispositivo da tavolo) Aree di applicazione/applicazione: Testare la composizione chimica del ferro 31 e Impostazione non ferrosi di 31 ferro e non ferrosi Metalli, azoto e altri elementi Descrizione della struttura: Supporto a scintilla aperta per un'elevata produttività dei campioni È possibile un'ampia varietà di geometrie del campione Facile cambio di base Come base sono disponibili i seguenti elementi: Al, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, Pb Gli elementi che possono essere analizzati e i livelli di concentrazione dipendono dai metodi disponibili per il rispettivo elemento base Intervallo di lunghezze d'onda utilizzabili 170-670 nm Uscita dei valori misurati in concentrazioni o intensità Unità di uscita selezionabili (%, ppm) Emissione di valori caratteristici statistici (valore medio, RSD) SPECTROMAXx LMX08 Specifiche tecniche: Ottica CCD: Multirivelatori CCD ad alta risoluzione Stabilizza contro le variazioni di temperatura Intervallo di lunghezze d'onda effettiva: 140-670 nm, applicabile e configurato La gamma di lunghezze d'onda dipende dai requisiti applicativi del cliente. Profilazione automatizzata Moduli di analisi: Moduli di analisi liberamente selezionabili Ottimizzato per le esigenze del cliente Espansione con moduli aggiuntivi possibile in loco Livello di scintilla: Supporto a scintilla aperta per campioni alti Produttività e diverse geometrie dei campioni Consumo di argon ridotto al minimo grazie al modulo di risparmio argon Flusso di argon ottimizzato Intervalli di pulizia ridotti Piastra base Spark facilmente sostituibile Design in grado di assorbire la temperatura senza raffreddamento ad acqua Sistema di otturatori integrati per una visione ottimale del plasma Sistema di eccitazione: Generatore di plasma completamente digitalizzato con definizione di scarica digitale, generazione di impulsi digitali e controllo digitale degli impulsi offline Microcontrollore da 32 MHz Kdjdpou S Ahqefx Agcew Durata massima della scintilla: 4000 µs Potenza scintilla massima 4 kW Sistema di visualizzazione: Microcontrollore separato per ciascun CCD Interfaccia sorgente seriale Spettrometro: Computer esterno all'avanguardia Sistema PC con sistema operativo Windows Tastiera e mouse Monitorare Software: Software Spark Analyser Pro MAX per operazioni analitiche e calibrazione Diagnostica hardware automatica continua in background Verifica e identificazione automatica della lega/qualità Responsabile dei risultati Pianificatore di manutenzione online Condizioni ambientali: Temperatura ambiente: 10-30°C Condizioni: (10-30°C) Umidità relativa:

Condizione: come nuova (usata), Anno di produzione: 2024, Funzionalità: perfettamente funzionante, Microscopio elettronico a scansione Zeiss XB 350 Dotazione e accessori • senza colonna FIB • Software SmartSEM e SmartFIB • GIS con precursore Pt • Plasma Cleaner integrato • EDX Oxford Xplore 30 (inclusi interfaccia e software) • Camera di carico automatica da 200 mm • Passante elettrico (2 x 15 canali) • Refrigeratore a ricircolo • Serbatoio tampone per vuoto Quiet Mode • ... oltre a tavolo, monitor, consolle di comando (tastiera e joystick proprietari Zeiss) e diversi portacampioni Messa in funzione: agosto 2024 Ubicazione: Magonza Disponibilità: disponibile a breve su accordo. L'attrezzatura è ancora in funzione e può essere visionata e testata. L'apparecchiatura non presenta difetti o danni ed è pienamente funzionante. Kedpfxjw Rdvvo Agcodw Ulteriori informazioni su richiesta!

Condizione: pronta per il funzionamento (usata), Scale: Rockwell/Rockwell-Superficial, altezza massima pezzo: ca. 180 mm, profondità di prova max.: ca. 165 mm, tempo di permanenza: ca. 3 s, uscita dati: Digimatic/RS-232-C, dimensioni macchina (X/Y/Z): ca. 250 mm/520 mm/780 mm, peso: ca. 50 kg. Documentazione disponibile. È possibile un'ispezione in loco. Ksdexc Niwjpfx Agcsdw